產(chǎn)品類型
X射線形貌系統(tǒng)能夠分辨出單晶襯底的裂紋，其分辨率降至10微米。
該系統(tǒng)采用單色準(zhǔn)直8keV強光束，能夠覆蓋高達(dá)5mm*5mm。
X射線形貌照片是在傳輸模式下獲得的。分辨率高達(dá)50lp/mm的相機通過衍射光束路徑的細(xì)微差異來記錄其強度的變化。
這將表明影響布拉格反射的各個點的分布，并顯示出特定的晶體缺陷，如沉淀、個別錯位、堆垛層錯、域界、相界等。
該系統(tǒng)采用一個具有遠(yuǎn)程控制功能和全自動控制調(diào)節(jié)分辨率和對比度的x射線桌面柜，具有很好的性價比，而且具有非常直觀的交互界面，深受科研人員和工業(yè)領(lǐng)域客戶的歡迎。
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