產(chǎn)品類型
PSL提供x射線顯微層析系統(tǒng)，在高達(dá)100keV條件下3D重建系統(tǒng)分辨率可低至亞微米。
該系統(tǒng)從不同角度位置記錄一系列x射線照片，包括骨頭、泡沫、石材、例如集成電路復(fù)合材料以及聚合物等高密度成分等。其最小的特征識(shí)別可降至0.4微米。
對(duì)于光學(xué)元件，每幀的總采集時(shí)間為幾秒鐘的范圍；對(duì)于較重的Z元素需要10秒。有兩種掃描模式可供選擇：一種是連續(xù)旋轉(zhuǎn)掃描，設(shè)定在幾分鐘內(nèi)完成一個(gè)完整的數(shù)據(jù)采集；一種是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的旋轉(zhuǎn)掃描，能夠保證絕對(duì)的精度和定位。三維重建的即刻完成得益于多圖形處理單元（GPU）的大規(guī)模并行計(jì)算。
該系統(tǒng)包含一個(gè)具有遠(yuǎn)程控制功能和全自動(dòng)控制調(diào)節(jié)分辨率和對(duì)比度的x射線桌面柜，具有很好的性價(jià)比，而且具有非常直觀的交互界面，深受科研人員和工業(yè)領(lǐng)域客戶的歡迎。
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